設(shè)備簡介：高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表、藥品、食品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下儲存、使用時的適應(yīng)性試驗。是各類電子、電工、電氣、塑膠等材料和器件進行耐寒、耐熱性試驗及品管的可靠性測試設(shè)備。 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫試驗設(shè)備》的要求 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1) 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2) GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》 總結(jié)：GB/T 5170.2-2008規(guī)定了溫度（包含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目，檢驗用主要儀器機要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。詳細(xì)規(guī)程請看資料詳細(xì)說明介紹。 | 
